Number of the records: 1
Effect of substrate roughness on crystallinity and DOS structure of Poly(3-Hexylthiophene) thin film
CREPC201709 CREPC201710 CREPC201711 CREPC022018 CREPC201802 CREPC201803 CREPC201806 Title statement Effect of substrate roughness on crystallinity and DOS structure of Poly(3-Hexylthiophene) thin film / aut. Tomáš Váry, Vojtech Nádaždy, Juraj Chlpík, Peter Nádaždy, Peter Šiffalovič, Gabriel Čík, Július Cirák Main entry-name Váry, Tomáš, 1984- (Author) - FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva Another responsib. Nádaždy, Vojtech, 1961- (Author) Chlpík, Juraj, 1975- Z1 (Author) - FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva Nádaždy, Peter Z5 (Author) Šiffalovič, Peter (Author) Čík, Gabriel, 1948- Z1 (Author) - FCHPT Oddelenie environmentálneho inžinierstva Cirák, Július, 1953- Z1 (Author) - FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva In APCOM 2017 [346 s.] / International conference on applied physics of condensed matter (APCOM 2017). -- Bratislava : Vydavateľstvo Spektrum STU, 2017. -- ISBN 978-80-227-4699-1. -- S. 83-86 Language English URL http://kf.elf.stuba.sk/~apcom/apcom17/proceedings2017/pdf/083%20vary.pdf Document kind RZB - článok zo zborníka Category AFD - Reports at home scientific conferences Category (from 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Year 2017 
article
Number of the records: 1