Number of the records: 1  

Charakterizácia vlastností moderných polovodičových štruktúr a prvkov optickými metódami

  1. Title statementCharakterizácia vlastností moderných polovodičových štruktúr a prvkov optickými metódami
    Main entry-name Dopirák, Andrej Z4 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Another responsib. Kováč, Jaroslav Z1 (Thesis advisor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Translated titleCharacterization of Modern Semiconductor Structures and Devices Properties Using Optical Methods
    Issue data2019
    FacultyFEI
    Date of acceptation11.06.2019
    Degreee discipline5.2.13. elektronika
    Degree programI-EN
    Phys.des.68 s., CD-ROM
    Subj. HeadingsSERS
    Optické metódy charakterizácie
    Ramanovský rozptyl
    Ramanovské čiary
    Spektrometria
    Spektrum
    Polovodič
    Optical methods of characterization
    Raman scattering
    Raman lines
    Spectrometry
    Spectrum
    Semiconductor
    SERS
    CountrySlovakia
    LanguageSlovak
    URLhttp://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=137481
    Document kindDDP - diplomová práca
    BarcodeCall number of locationCall numberLocationSublocationInfo
    284EP12158E*DIPL- 12158Fakulta elektrotechniky a informatikyÚstav elektroniky a fotonikyIn-Library Use Only