Number of the records: 1  

Radiačná odolnosť polovodičových detektorov

  1. Title statementRadiačná odolnosť polovodičových detektorov
    Main entry-name Škerlik, Matej (Author) - FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva
    Another responsib. Zaťko, Bohumír (Thesis advisor)
    Translated titleRadiation hardness of semiconductor detectors
    Issue data2019
    FacultyFEI
    Date of acceptation10.06.2019
    Degreee discipline5.2.48. fyzikálne inžinierstvo
    Degree programI-JFI
    Phys.des.60 s., príl.
    Subj. Headingsdetektor
    radiácia
    radiačná odolnosť
    detector
    radiation
    radiation hardness
    CountrySlovakia
    LanguageSlovak
    URLhttp://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=145793
    Document kindDDP - diplomová práca
    BarcodeCall number of locationCall numberLocationSublocationInfo
    284EP12137E*DIPL- 12137Fakulta elektrotechniky a informatikyÚstav jadrového a fyzikálného inžinierstvaIn-Library Use Only