Number of the records: 1
Radiačná odolnosť polovodičových detektorov
SYS stuzp68620 LBL 00000ntm-a22^^^^^3a-4500 003 SK-STU 005 20200103104829.1 007 ta 008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d 040 $a STU $b slo 041 0-
$a slo 044 $a xo 100 1-
$7 stu_us_auth*0039289 $a Škerlik, Matej $u 036000 $4 aut $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva $X 93611 $U E060 $Y 817 242 01
$a Radiation hardness of semiconductor detectors $y eng 245 10
$a Radiačná odolnosť polovodičových detektorov 260 $c 2019 300 $a 60 s., príl. 650 -4
$a detektor $2 slo 650 -4
$a radiácia $2 slo 650 -4
$a radiačná odolnosť $2 slo 650 -4
$a detector $2 eng 650 -4
$a radiation $2 eng 650 -4
$a radiation hardness $2 eng 700 1-
$7 stu_us_auth*stu58272 $a Zaťko, Bohumír $4 ths 856 4-
$u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=145793
Number of the records: 1