Search results

  1. Skúmanie emisných a záchytných procesov v štruktúrach na báze GaN spektroskopiou hlbokých hladín
    Kopecký Andrej ; 033000  Stuchlíková Ľubica ; 033000 (Thesis advisor)
    2019
    FEI ; Date of acceptation : 11.06.2019 ; Degreee discipline : 5.2.13. elektronika ; Degree program : I-EN . - 38 s., CD-ROM

    http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=143732
    diplomová práca
    Faculty Available Inaccesible Issued For Request Only
    FEI0100
    book

    book

  2. Defect distribution in Fe - doped InP epitaxial layers / aut. Arpád Kósa, Jakub Drobný, Jaroslav jr Kováč, M Badura, Beata Sciana, Ľubica Stuchlíková
    Kósa Arpád ; 033000  Drobný Jakub ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Badura M. Sciana Beata Stuchlíková Ľubica ; 033000
    ADEPT 2019 : . S. 175-178
    Fe doped InP defect Deep Level Transient Fourier Spectroscopy
    článok zo zborníka
    AFD - Reports at home scientific conferences
    article

    article

  3. DLTFS study of GaN/AlGaN/GaN/SiC HEMT heterostructures with different layer composition / aut. Jakub Drobný, Andrej Kopecký, Arpád Kósa, Peter Benko, Martin Florovič, Jaroslav jr Kováč, Sylvain Laurent Delage, Ľubica Stuchlíková
    Drobný Jakub ; 033000  Kopecký Andrej ; 030000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Florovič Martin ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Delage Sylvain Laurent Stuchlíková Ľubica ; 033000
    ADEPT 2019 : . S. 111-114
    DLTFS electrically active defect AlGaN/GaN/SiC HEMT structures
    článok zo zborníka
    AFD - Reports at home scientific conferences
    article

    article

  4. Defect distribution in metal-porous siliconsilicon structures / aut. Peter Benko, Ľubica Stuchlíková, Arpád Kósa, Jakub Drobný, Ladislav Harmatha, Miroslav Mikolášek, Martin Kopáni, Kentaro Imamura, Hikaru Kobayashi, Emil Pinčík
    Benko Peter ; 033000  Stuchlíková Ľubica ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Drobný Jakub ; 033000 Harmatha Ladislav ; 033000 Mikolášek Miroslav ; 033000 Kopáni Martin Imamura Kentaro Kobayashi Hikaru Pinčík Emil
    ADEPT 2019 : . S. 135-138
    porous silicon black silicon defects DLTFS
    článok zo zborníka
    AFD - Reports at home scientific conferences
    article

    article

  5. Selective identification of saccharides in solutions by transmittance method / aut. Jakub Drobný, Jaroslav jr Kováč, Martin Weis, Ľubica Stuchlíková
    Drobný Jakub ; 033000  Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Weis Martin ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
    ADEPT 2019 : . S. 143-146
    transmittance monosaccharides saccharide solutions
    článok zo zborníka
    AFD - Reports at home scientific conferences
    article

    article

  6. Charakterizácia porúch v moderných prvkoch a báze nitridu gália / aut. Jakub Drobný, Martin Weis, Peter Benko, Jaroslav jr Kováč, Ľubica Stuchlíková
    Drobný Jakub ; 033000  Weis Martin ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
    Matematika, informační technologie a aplikované vědy : . CD-ROM, [8] s.
    článok zo zborníka
    AFC - Reports at international scientific conferences
    article

    article

  7. Miesto edukačných hier v technickom vzdelávaní / aut. Ľubica Stuchlíková, Peter Benko, Filip Chymo, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Jiří Hrbáček
    Stuchlíková Ľubica ; 033000  Benko Peter ; 033000 Chymo Filip ; 033000 Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Hrbáček Jiří
    Matematika, informační technologie a aplikované vědy : . CD-ROM, [6] s.
    článok zo zborníka
    AFC - Reports at international scientific conferences
    article

    article

  8. Defect analysis of Ni-Au/AlN/p-Si MIS capacitors / aut. Ľubica Stuchlíková, Jakub Drobný, Peter Benko, Arpád Kósa, Miroslav Mikolášek, Aleš Chvála, Juraj Marek
    Stuchlíková Ľubica ; 033000  Drobný Jakub ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Mikolášek Miroslav ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Marek Juraj ; 033000
    ADEPT 2019 : . S. 223-226
    defect analysis DLTFS C-V Ni-Au/AlN/p-Si MIS capacitors
    článok zo zborníka
    AFD - Reports at home scientific conferences
    article

    article

  9. Defect analysis of InAlGaN/GaN/SiC HEMT heterostructures / aut. Ľubica Stuchlíková, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Jakub Vadovský, Peter Benko, Aurel Škoda, Sylvain Laurent Delage, Jaroslav jr Kováč
    Stuchlíková Ľubica ; 033000  Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Vadovský Jakub Benko Peter ; 033000 Škoda Aurel Delage Sylvain Laurent Kováč Jaroslav jr. ; 033000
    WOCSDICE 2019 : . [2] s.
    článok zo zborníka
    BEE - Scientific works in not noticed year-books from international undertakings, foreign year-books
    article

    article

  10. DLTFS study of emission and capture processes in GaN/AlGaN/GaN/SiC HEMT heterostructures with different layer compositions / aut. Jakub Drobný, Peter Benko, Arpád Kósa, Andrej Kopecký, Martin Florovič, Jaroslav jr Kováč, Sylvain Laurent Delage, Ľubica Stuchlíková
    Drobný Jakub ; 033000  Benko Peter ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Kopecký Andrej ; 030000 Florovič Martin ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Delage Sylvain Laurent Stuchlíková Ľubica ; 033000
    WOCSDICE 2019 : . [2] s.
    článok zo zborníka
    BEE - Scientific works in not noticed year-books from international undertakings, foreign year-books
    article

    article