Search results
- Simulation and modeling of thermo-mechanical properties and reliability of power IGBT devices and modules / aut. František Kovaľ, Aleš Chvála
Kovaľ František ; 030000 Chvála Aleš ; 033000
ADEPT 2023 : . S. 95-98
IGBT module reliability simulation fatigue module
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
article
- Automatic detection and counting of defects from cathodoluminescence maps of GaN layers / aut. Juraj Priesol, David Gellen, Alexander Šatka
Priesol Juraj ; 033000 Gellen David ; 030000 Šatka Alexander ; 033000
MECO 2023 : . [4] s.
object detection object counting 2D FFT segmentation CLAHE watershed Cathodoluminescence GaN quality assessment reliability
https://ieeexplore.ieee.org/document/10155031
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Nelineárna analýza
Benko Vladimír ; 010110 Fillo Ľudovít
Navrhování betonových konstrukcí podle nové generace Eurokódů . S. 223-237
vlastnosti materiálov interakčný diagram spoľahlivosť characteristic of materials interaction diagram reliability
článok zo zborníka
BEE - Scientific works in not noticed year-books from international undertakings, foreign year-books
O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníkaarticle
- Presentation of the FEM analysis methodology using MathCAD software
Králik Juraj Bočkaj Jozef ; 010320 Králik Juraj ml. ; 054140
International Journal of Education and Information Technologies . No. 17 (2023), online, s. 100-112
FEM MathCAD statics truss structures frames reliability safety control
https://npublications.com/journals/articles.php?id=566
článok z periodika
ADM - 13/NOVÉ Vedecké práce v zahraničných časopisoch registrovaných v databázach Web of Science alebo SCOPUS
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisuarticle
- SiC Power TrenchMOS Transistor under harsh repetitive switching conditions / aut. Juraj Marek, Michal Minárik, Matej Matuš, Jozef Kozárik, Ľubica Stuchlíková
Marek Juraj ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Matuš Matej ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
EPE´23 ECCE Europe : . [8] s.
charge trap states reliability degradation SiC MOSFET TrenchMOSFET repetitive UIS repetitive short circuit
https://ieeexplore.ieee.org/document/10264402
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Druhá generácia Eurokódu 2 - pretlačenie lokálne podopretých dosiek
Halvoník Jaroslav ; 010110 Majtánová Lucia ; 010110
28. Betonářské dny 2022 : . USB kľúč, s. 201-207
pretlačenie lokálne podopretá doska odolnosť spoľahlivosť punching flat slab resistance reliability
článok zo zborníka
BEE - Scientific works in not noticed year-books from international undertakings, foreign year-books
O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníkaarticle
- Analysis of 15 A–1200 V class IGBTs under repeitive SC conditions / aut. Juraj Marek, Michal Minárik, Jozef Kozárik, Martin Jagelka
Marek Juraj ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Jagelka Martin ; 033000
ADEPT 2022 : . S. 205-208
reliability degradation IGBT repetitive short circuit
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Simulation of electrical properties and reliability of power IGBT module / aut. František Kovaľ, Aleš Chvála
Kovaľ František ; 030000 Chvála Aleš ; 033000
ADEPT 2022 : . S. 73-76
IGBT module reliability simulation
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Charge trap states of sic power trenchmos transistor under repetitive unclamped inductive switching stress / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Michal Minárik, Aleš Chvála, Matej Matuš, Martin Donoval, Ľubica Stuchlíková, Martin Weis
Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Matuš Matej ; 033000 Donoval Martin ; 030690 Stuchlíková Ľubica ; 033000 Weis Martin ; 033000
Materials . Vol. 15, iss. 22 (2022), Art. no. 8230 [11] s.
charge trap states reliability degradation SiC MOSFET TrenchMOSFET repetitive UIS
https://www.mdpi.com/1996-1944/15/22/8230
článok z periodika
ADC - Scientific titles in foreign carented magazines and noticed year-books
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisuarticle
- Investigation of the effect of different shading scale on the operating of photovoltaic modules using numerical simulations / aut. Milan Perný, Vladimír Šály, Juraj Packa, František Janíček, János Kurcz, Lukáš Valášek
Perný Milan ; 032000 Šály Vladimír ; 032000 Packa Juraj ; 032000 Janíček František ; 032000 Kurcz János ; 032000 Valášek Lukáš
EPE 2022 : . S. 205-210
bypass diode hotspot diagnostics reliability Photovoltaics renewable energy sources simulations MATLAB
https://ieeexplore.ieee.org/document/9814102
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle