Počet záznamov: 1
Interference-enhanced Raman scattering in SiO2/Si structures related to reflectance
Údaje o názve Interference-enhanced Raman scattering in SiO2/Si structures related to reflectance / aut. Ľubomír Vančo, Mário Kotlár, Magdaléna Kadlečíková, Viliam Vretenár, Marian Vojs, Jaroslav jr Kováč Záhlavie-meno Vančo, Ľubomír, 1983- (Autor) - Centrum STU pre nanodiagnostiku Ďal.zodpovednosť Kotlár, Mário, 1976- Z2 (Autor) - Centrum STU pre nanodiagnostiku Kadlečíková, Magdaléna, 1956- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Vretenár, Viliam, 1976- Z2 (Autor) - Centrum STU pre nanodiagnostiku Vojs, Marian, 1979- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Kováč, Jaroslav jr. 1977- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky In Journal of raman spectroscopy. -- ISSN 0377-0486. -- Vol. 50, iss. 10 (2019), s. 1502-1509 Predmet.heslá enhanced Raman scattering interference reflectance silicon oxide thin films Jazyk dok. angličtina Druh dok. RBX - článok z periodika Kategória ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch Kategória od 2022 V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu V databázach CC: 000480660400001
WOS: 000480660400001
DOI: 10.1002/jrs.5666
SCOPUS: 2-s2.0-85070720341Rok 2019 
článok
Počet záznamov: 1