Počet záznamov: 1  

Charakterizácia vlastností moderných polovodičových štruktúr a prvkov optickými metódami

  1. Údaje o názveCharakterizácia vlastností moderných polovodičových štruktúr a prvkov optickými metódami
    Záhlavie-meno Dopirák, Andrej Z4 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Ďal.zodpovednosť Kováč, Jaroslav Z1 (Školiteľ (konzultant)) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Prekl.názCharacterization of Modern Semiconductor Structures and Devices Properties Using Optical Methods
    Vyd.údaje2019
    FakultaFEI
    Dátum obhajoby11.06.2019
    Študijný odbor5.2.13. elektronika
    Študijný programI-EN
    Fyz.popis68 s., CD-ROM
    Predmet.hesláSERS
    Optické metódy charakterizácie
    Ramanovský rozptyl
    Ramanovské čiary
    Spektrometria
    Spektrum
    Polovodič
    Optical methods of characterization
    Raman scattering
    Raman lines
    Spectrometry
    Spectrum
    Semiconductor
    SERS
    KrajinaSlovensko, Slovenská republika
    Jazyk dok.slovenčina
    URLhttp://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=137481
    Druh dok.DDP - diplomová práca
    Čiar.kódLokačná signatúraSignatúraLokáciaDislokáciaInfo
    284EP12158E*DIPL- 12158Fakulta elektrotechniky a informatikyÚstav elektroniky a fotonikylen prezenčne