Počet záznamov: 1
Charakterizácia vlastností moderných polovodičových štruktúr a prvkov optickými metódami
Údaje o názve Charakterizácia vlastností moderných polovodičových štruktúr a prvkov optickými metódami Záhlavie-meno Dopirák, Andrej Z4 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Ďal.zodpovednosť Kováč, Jaroslav Z1 (Školiteľ (konzultant)) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Prekl.náz Characterization of Modern Semiconductor Structures and Devices Properties Using Optical Methods Vyd.údaje 2019 Fakulta FEI Dátum obhajoby 11.06.2019 Študijný odbor 5.2.13. elektronika Študijný program I-EN Fyz.popis 68 s., CD-ROM Predmet.heslá SERS Optické metódy charakterizácie Ramanovský rozptyl Ramanovské čiary Spektrometria Spektrum Polovodič Optical methods of characterization Raman scattering Raman lines Spectrometry Spectrum Semiconductor SERS Krajina Slovensko, Slovenská republika Jazyk dok. slovenčina URL http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=137481 Druh dok. DDP - diplomová práca kniha
Čiar.kód Lokačná signatúra Signatúra Lokácia Dislokácia Info 284EP12158 E*DIPL- 12158 Fakulta elektrotechniky a informatiky Ústav elektroniky a fotoniky len prezenčne
Počet záznamov: 1