Počet záznamov: 1

Charakterizácia vlastností moderných polovodičových štruktúr a prvkov optickými metódami

Údaje o názve	Charakterizácia vlastností moderných polovodičových štruktúr a prvkov optickými metódami
Záhlavie-meno	Dopirák, Andrej Z4 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
Ďal.zodpovednosť	Kováč, Jaroslav Z1 (Školiteľ (konzultant)) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
Prekl.náz	Characterization of Modern Semiconductor Structures and Devices Properties Using Optical Methods
Vyd.údaje	2019
Fakulta	FEI
Dátum obhajoby	11.06.2019
Študijný odbor	5.2.13. elektronika
Študijný program	I-EN
Fyz.popis	68 s., CD-ROM
Predmet.heslá	SERS
	Optické metódy charakterizácie
	Ramanovský rozptyl
	Ramanovské čiary
	Spektrometria
	Spektrum
	Polovodič
	Optical methods of characterization
	Raman scattering
	Raman lines
	Spectrometry
	Spectrum
	Semiconductor
	SERS
Krajina	Slovensko, Slovenská republika
Jazyk dok.	slovenčina
URL	http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=137481
Druh dok.	DDP - diplomová práca

kniha

Čiar.kód	Lokačná signatúra	Signatúra	Lokácia	Dislokácia	Info
284EP12158		E*DIPL- 12158	Fakulta elektrotechniky a informatiky	Ústav elektroniky a fotoniky	len prezenčne

citace PRO

Počet záznamov: 1