Počet záznamov: 1
Charakterizácia vlastností moderných polovodičových štruktúr a prvkov optickými metódami
- SERS. Optické metódy charakterizácie. Ramanovský rozptyl. Ramanovské čiary. Spektrometria. Spektrum. Polovodič. Optical methods of characterization. Raman scattering. Raman lines. Spectrometry. Spectrum. Semiconductor. SERSDopirák, Andrej Charakterizácia vlastností moderných polovodičových štruktúr a prvkov optickými metódami. -- 2019. -- 68 s., CD-ROM. Kováč, Jaroslav
Počet záznamov: 1