Výsledky vyhľadávania
- Measurement of noise characteristics of selected JFET devices / aut. Erik Tisovský, Alexander Šatka, Juraj Priesol
Tisovský Erik ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Priesol Juraj ; 033000
ELITECH´19 : . CD-ROM, [5] s.
spectrum analysis noise JFET
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
článok
- Characterization of a low-frequency noise of JFET transistors / aut. Erik Tisovský, Alexander Šatka, Juraj Priesol
Tisovský Erik ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Priesol Juraj ; 033000
ADEPT 2019 : . S. 231-234
JFET transistor Noise measurement 1/f noise generation-recombination noise
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok
- Využitie spektrálnej analýzy signálov na charakterizáciu elektronických prvkov
Tisovský Erik ; 033000 Priesol Juraj ; 033000 (škol.)
2018
FEI ; 12.06.2018 ; 5.2.13. elektronika ; I-EN . - 54 s., CD-ROM
http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=137506
diplomová prácaFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FEI 0 1 0 0 
kniha
- Využitie prostredia NI Labview pri riadení elektronických meracích prístrojov a systémov
Tisovský Erik ; 033000 Priesol Juraj ; 033000 (škol.)
2016
FEI ; 07.07.2016 ; 5.2.13. elektronika ; B-ELN . - 41 s., CD-ROM
http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=106969
bakalárska prácaFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FEI 0 1 0 0 kniha