Electrical transport effects in YBCO/LSMO bilayer junctions / aut. Timur Nurgaliev, Vladimír Štrbík, Norbert Gál, Štefan Chromik, Michaela Sojková
Nurgaliev Timur  Štrbík Vladimír Gál Norbert ; 036000 Chromik Štefan Sojková Michaela
Physica B-Condensed Matter . Vol. 550, (2018), s. 324-331
thin films YBCO/LSMO junction interface resistance I-V characteristics electric current effect
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0921452618305945
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu