Determination of on chip temperature distribution of devices under operation by using Raman microscopy / aut. Jaroslav jr Kováč, Robert Szobolovszký, Martin Florovič, Jaroslav Kováč, Aleš Chvála, Tomáš Vincze
Kováč Jaroslav jr. ; 033000  Szobolovszký Robert ; 033000 Florovič Martin ; 033000 Kováč Jaroslav ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Vincze Tomáš ; 030000
ADEPT 2019 : . S. 289-292
GaN HEMT SiC temperature Raman microscopy
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka