Výsledky vyhľadávania
- Measurement System with Hall and a Four Point Probes for Characterization of Semiconductors
Kinder Rudolf Mikolášek Miroslav ; E030 Donoval Daniel ; E030 Kováč Jaroslav ; E030 Tlaczala Marek
Journal of Electrical Engineering . Vol. 64, No. 2 (2013), s.106-111
článok z periodika
ADN - 13/NOVÉ Vedecké práce v domácich časopisoch registrovaných v databázach Web of Science alebo SCOPUS
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
(3) - článok - Hall and a Four Point Probe for Characterization of Semiconductors
Kinder Rudolf ; E030 Mikolášek Miroslav ; E030 Kováč Jaroslav ; E030 Tlaczala Marek
APCOM 2011. Applied Physics of Condensed Matter : . s.224-227
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Spolupráca FEI STU a TU Wroclaw
Kinder Rudolf ; E030 Kováč Jaroslav ; E030
Spektrum . Roč. 18, č. 3 (2011), s.10
článok z periodika
GII - Rôzne publikácie a dokumenty, ktoré nemožno zaradiť do žiadnej z predchádzajúcich kategórií
I3 - Iný výstup publikačnej činnosti z časopisu - Electrical Properties of Al0.3Ga0.7N/GaN Heterostructure Field Effect Transistor
Florovič Martin ; E030 Kováč Jaroslav ; E030 Škriniarová Jaroslava ; E030 Lalinský Tibor Haščík Štefan Kordoš Peter ; E030 Donoval Daniel ; E030 Kinder Rudolf ; E030 Tomáška Martin ; E030
APCOM 2010. Applied Physics of Condensed Matter : . s.205-209
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Analýza vlastností SiGe heterobipolárneho tranzistora
Bednár Martin ; E Kinder Rudolf (škol.) ; E030 Stuchlíková Ľubica (škol.) ; E030
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2009 . - 58 s
elektronika Mikroelektronika tranzistory
diplomová práca - Study of Effect of Phosphorous Cross-Contamination for Antimony Implantation on Electrical Properties of Semiconductor Devices
Kuruc Marián Hulényi Ladislav ; E210 Kinder Rudolf ; E030 Žiška Milan ; E030
EDS´09. Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference 2009 : . s.147-151
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Electrical Properties of Ni Gate Electrodes for Advanced CMOS Technology
Benko Peter ; E030 Harmatha Ladislav ; E030 Novotný Ivan ; E030 Řeháček Vlastimil ; E030 Breza Juraj ; E030 Kinder Rudolf ; E030
EDS´09. Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference 2009 : . s.217-222
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Application of spreading resistence profiling for monitoring of semiconductor technological processes = Využitie metódy rozptylového odporu na monitorovanie technologických procesov polovodičovej výroby : Dát. obhaj. 25.02.2010, č. ved. odb. 26-13-9
Kuruc Marián Hulényi Ladislav (škol.) ; E210 Kinder Rudolf (škol.)
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2009
FEI ; . - 120 s
elektronika rozptylový odpor technologické procesy monitorovanie procesov polovodiče
dizertačná práca
DAI - Dizertačné a habilitačné práceFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FEI 1 0 0 0 - Progress in Dopant and Carrier Profiling in GaAs Structures
Kinder Rudolf ; E030 Srnánek Rudolf ; E030 Sciana Beata Radziewicz Damian Brammertz G. Goossens M. Clarysse T. Vincze Andrej
APCOM 2009. Applied Physics of Condensed Matter : . s.172-177
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Using Spreading Resistance Profiling and Simulations for Monitoring of Phosphorus Contamination in Ion Implantation of Arsenic
Kuruc Marián Hulényi Ladislav ; E210 Kinder Rudolf ; E030
EDS´08. Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference 2008 : . s.103-108
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka