Výsledky vyhľadávania
- Chemical Interaction in NC-AFM on Semiconductor Surfaces
Ke S.H. Uda T. Terakura K. Pérez R. Štich Ivan ; E150
Noncontact Atomic Force Microscopy / . s.279-304
kapitola(článok) z dokumentu
ABC - Kapitoly vo vedeckých monografiách vydané v zahraničných vydavateľstvách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
článok
- Image Formation in FM AFM on Metals: Strong vs. Weak Imaging
Štich Ivan ; E150 Dieška Peter ; E060 Perez Ruben
Noncontact Atomic Force Microscopy / . s.14
článok zo zborníka
AFG - Abstrakty príspevkov zo zahraničných konferencií
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok
- Tip-surface interactions in noncontact atomic force microscopy on reactive surfaces
Štich Ivan ; E150 Tóbik Jaroslav ; E150 Perez Ruben Terakura K. Ke S.H.
Progress in Surface Science . Vol. 64 (2000), s.179-191
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisučlánok