Identification of electrically stressed regions in AlGaN/GaN-on-Si Schottky barrier diode using EBIC technique / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Aleš Chvála, Steve Stoffels, Brice De Jaeger, Stefaan Decoutere
Priesol Juraj ; 033000  Šatka Alexander ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Stoffels Steve De Jaeger Brice Decoutere Stefaan
IEEE Transactions on Electron Devices . Vol. 68, No. 1 (2021), s. 216-221
AlGaN/GaN electric field electrical stress EBIC Focused Ion Beam Scanning electron microscopy Schottky diode TCAD simulation
https://ieeexplore.ieee.org/document/9288930
článok z periodika
ADC - Scientific titles in foreign carented magazines and noticed year-books
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu

Smrt a život amerických velkoměst / aut. Jane Jacobsová
Jacobsová Jane 
1. vydanie
Praha : Odeon, 1975 . - 281 s.
veľkomestá americké centrum bývanie architektúra ulice námestia cesty parkoviská moderná architektúra
monografia