Investigation of volume fraction of GaP nanowires by SEM characterization and spectroscopic ellipsometry / aut. Jaroslava Škriniarová, Pavol Hronec, Juraj Chlpík, Agáta Laurenčíková, Jaroslav jr Kováč, Jozef Novák, Robert Andok
Škriniarová Jaroslava ; 033000  Hronec Pavol Chlpík Juraj ; 036000 Laurenčíková Agáta Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Novák Jozef Andok Robert
Optik . Vol. 234, (2021), art. no. 166572 [6] s.
ellipsometry GaP SEM Nanowires
článok z periodika
ADC - Scientific titles in foreign carented magazines and noticed year-books
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu