Univerzálny BIST pre testovanie vnorených pamätí v systémoch na čipe / aut. Juraj Šubín ; škol. Elena Gramatová
Šubín Juraj ; 070100  Gramatová Elena ; I100 (Thesis advisor)
Počítačové architektury a diagnostika PAD 2015 : . S. 75-80
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka