Metrology in eye pressure measurements
Pavlásek Peter ; 020020  Rybář Jan ; 020020 Ďuriš Stanislav ; 020020 Hučko Branislav ; 020010 Palenčár Jakub ; 020020 Chytil Miroslav
2020 IEEE Sensors Applications Symposium (SAS 2020) Proceedings . S. [1-6]
metrológia Metrology metrology
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka