Etalónové zariadenie na metrologickú kontrolu bezkontaktných očných tonometrov a umelá očná rohovka na účely kalibrácií oftalmologických veličín pre toto zariadenie : podaná patentová prihláška PP 146-2020 dňa 30.12. 2020 / dátum zverejnenia 28.4.2021 / číslo prihlášky 146-2020 aut. Jan Rybář, Peter Pavlásek, Stanislav Ďuriš, Branislav Hučko, Miroslav Chytil
Rybář Jan ; 020020  Pavlásek Peter ; 020100 Ďuriš Stanislav ; 020020 Hučko Branislav ; 020010 Chytil Miroslav
Banská Bystrica Úrad priemyselného vlastníctva SR 2020 . - 8 s.
etalónové zariadenie metrológia metrologická kontrola bezkontaktný očný tonometer standard device metrology metrological control non-contact eye tonometer
patentový spis
AGJ - Authority certificates, patents, discoveries
D1 - Dokument práv duševného vlastníctva