Power SiC MOSFET under repetitive UIS and short circuit stress / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Aleš Chvála, Michal Minárik, Martin Donoval
Marek Juraj ; 033000  Kozárik Jozef ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Donoval Martin ; 030690
ADEPT 2021 : . S. 67-70
reliability degradation SiC MOSFET TrenchMOSFET repetitive UIS repetitive short circuit
článok z periodika
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka