Annealing impact on the defect distribution in GaAsN/GaAs heterostructures / aut. Ľubica Stuchlíková, Arpád Kósa, Peter Benko, Matej Matuš, Darko Činčurak, Wojciech Dawidowski, Damian Radziewicz, Beata Ściana
Stuchlíková Ľubica ; 033000  Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Matuš Matej ; 030000 Činčurak Darko ; 030000 Dawidowski Wojciech Radziewicz Damian Ściana Beata
ADEPT 2022 : . S. 250-253
Deep Level Transient Fourier Spectroscopy GaAsN annealing
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka