Basket

  Untick selected:   0
  1. Vplyv Bi na životnosť a spoľahlivosť spájkovaných spojov v mikroelektronike
    Lechovič Emil ; M3000 
    Technológia zvárania 2008 - Technológia rozvoja priemyslu Európskej únie :
    spájkovaný spoj Mikroelektronika
    článok zo zborníka
    AFD - Reports at home scientific conferences
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    article

    article


  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.