Number of the records: 1
Determination of on chip temperature distribution of devices under operation by using Raman microscopy
Title statement Determination of on chip temperature distribution of devices under operation by using Raman microscopy / aut. Jaroslav jr Kováč, Robert Szobolovszký, Martin Florovič, Jaroslav Kováč, Aleš Chvála, Tomáš Vincze Main entry-name Kováč, Jaroslav jr. 1977- (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Another responsib. Szobolovszký, Robert, 1990- Z3 - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Florovič, Martin, 1978- Z2 - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Kováč, Jaroslav, 1947- Z8 - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Chvála, Aleš, 1981- Z2 - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Vincze, Tomáš, 1995- Z4 - FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky In ADEPT 2019 [295 s.] / International conference on Advances in electronic and photonic technologies (Adept 2019). -- Žilina : University of Žilina, 2019. -- ISBN 978-80-554-1568-0. -- S. 289-292 Subj. Headings GaN HEMT SiC temperature Raman microscopy Language English Document kind RZB - článok zo zborníka Category AFD - Reports at home scientific conferences Category (from 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Year 2019 
article
Number of the records: 1