Number of the records: 1
Charakterizácia polovodičových štruktúr pre vertikálne GaN tranzistory metódami SEM
Title statement Charakterizácia polovodičových štruktúr pre vertikálne GaN tranzistory metódami SEM / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, František Uherek, Daniel Haško, Peter Šichman, Stanislav Hasenöhrl, Ján Kuzmík Main entry-name Priesol, Juraj, 1986- (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Another responsib. Šatka, Alexander, 1960- Z1 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Uherek, František, 1954- Z1 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Haško, Daniel, 1975- Z5 (Author) Šichman, Peter (Author) Hasenöhrl, Stanislav Z5 (Author) Kuzmík, Ján (Author) Translated title Characterization of semiconductor structures for vertical GaN transistors by SEM methods In Fotonika 2020 [34 s.] / Výročný vedecký seminár Medzinárodného laserového centra (FOTONIKA 2020). -- Bratislava : Medzinárodné laserové centrum, 2020. -- ISBN 978-80-972238-9-2. -- S. 11-14 Subj. Headings vertikálny GaN tranzistor rastrovacia elektrónová mikroskopia katódoluminiscencia Language Slovak Document kind RZB - článok zo zborníka Category AFD - Reports at home scientific conferences Category (from 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Year 2020 
article
Number of the records: 1