Number of the records: 1
Electrically active defects in SiC planar power MOSFET
Title statement Electrically active defects in SiC planar power MOSFET / aut. Jakub Drobný, Juraj Marek, Matej Matúš, Aleš Chvála, Angelo Alberto Messina, Vincenzo Vinciguerra, Ľubica Stuchlíková Main entry-name Drobný, Jakub, 1994- (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Another responsib. Marek, Juraj, 1983- Z1 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Matuš, Matej Z4 (Author) - FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky Chvála, Aleš, 1981- Z2 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Messina, Angelo Alberto (Author) Vinciguerra, Vincenzo (Author) Stuchlíková, Ľubica, 1967- Z1 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky In SURFINT - SREN VII [79 s.] / Progress in applied surface, interface and thin film science. -- Bratislava : Comenius University, 2021. -- ISBN 978-80-223-5296-3. -- S. 12-13 Language English Document kind RZB - článok zo zborníka Category AFH - Abstractions of scientific titles in year-books from home conferences Category (from 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Year 2021 
article
Number of the records: 1