Number of the records: 1
On the preparation of GaN device cross-sections for EBIC analysis
Title statement On the preparation of GaN device cross-sections for EBIC analysis / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Daniel Haško, František Uherek Main entry-name Priesol, Juraj, 1986- (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Another responsib. Šatka, Alexander, 1960- Z1 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Haško, Daniel, 1975- Z5 (Author) Uherek, František, 1954- Z1 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky In Fotonika 2022 [116 s.] / Michalka, Miroslav. -- Bratislava : Medzinárodné laserové centrum, 2022. -- ISBN 978-80-8240-033-8. -- S. 37-40 Subj. Headings Cross-section mechanical polishing nano-polishing grinding vertical GaN EBIC Language English Document kind RZB - článok zo zborníka Category AFD - Reports at home scientific conferences Category (from 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Type of document príspevok z podujatia Year 2022 
article
Number of the records: 1