Number of the records: 1
The impact of electric stress on charge trap states in SiC-based TrenchMOS
- Title information
Title statement The impact of electric stress on charge trap states in SiC-based TrenchMOS / aut. Juraj Marek, Matej Matuš, Viktor Málik, Aleš Chvála, Martin Weis, Ľubica Stuchlíková Main entry-name Marek, Juraj, 1983- (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Another responsib. Matuš, Matej, 1997- Z3 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Málik, Viktor, 2000- Z4 (Author) - FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky Chvála, Aleš, 1981- Z1 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Weis, Martin, 1980- Z1 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Stuchlíková, Ľubica, 1967- Z1 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky In WOCSDICE-EXMATEC 2024 / Workshop on compound semiconductor devices and integrated circuits held in Europe (Wocsdice 2024). -- Heraklion Crete : MITOS, 2024. -- [2] s. Document kind RZB - článok zo zborníka Category BEE - Scientific works in not noticed year-books from international undertakings, foreign year-books Category (from 2022) O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka Type of document príspevok z podujatia Year 2024 
article
Modulový systém na efektívne spravovanie sietí LAN a WANVariant headingBredár Tomáš ; EHambalík Alexander (Thesis advisor) ; E050Issue dataBratislava : STU v Bratislave FEI, 2014FacultyFEI ; 19.06.2014 ; 359. - 80 s príl
Number of the records: 1