Number of the records: 1
Structural characterization of twinning in β-Ga2O3 filament inclusions on Ga2O3 thin films epitaxially grown on sapphire substrates by MOCVD
Title statement Structural characterization of twinning in β-Ga2O3 filament inclusions on Ga2O3 thin films epitaxially grown on sapphire substrates by MOCVD / aut. Roshan Jeevan Chidambaram, Alica Rosová, Edmund Dobročka, Kristína Hušeková, Milan Ťapajna, Filip Gucmann Main entry-name Chidambaram, Roshan Jeevan (Author) - FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva Another responsib. Rosová, Alica (Author) Dobročka, Edmund, 1955- Z5 (Author) Hušeková, Kristína (Author) Ťapajna, Milan, 1977- (Author) Gucmann, Filip, 1987- (Author) In ELITECH´25 [CD ROM, 208 s.] / Kozáková, Alena. -- Bratislava : Vydavateľstvo Spektrum STU, 2025. -- ISBN 978-80-227-5492-7. -- [5] s. Subj. Headings Gallium oxide Epitaxy twinning m-plane sapphire Language English Document kind RZB - článok zo zborníka Category AFD - Reports at home scientific conferences Category (from 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Type of document príspevok z podujatia Year 2025 
article
Number of the records: 1