Number of the records: 1  

Charakterizácia elektrofyzikálnych procesov v štruktúrach MOS pre pokročilú CMOS technológiu

  1. Title statementCharakterizácia elektrofyzikálnych procesov v štruktúrach MOS pre pokročilú CMOS technológiu : dát. obhaj. 26.6.2007, čís. ved. odb. 26-13-9
    Main entry-name Ťapajna, Milan, 1977- (Author) - FEI Katedra mikroelektroniky
    Another responsib. Harmatha, Ladislav, 1948- (Thesis advisor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Issue dataBratislava : STU v Bratislave FEI, 2007
    Phys.des.130 s
    Subj. Headings elektronika
    CMOS
    MOS štruktúry
    elektrofyzikálne vlastnosti
    LanguageSlovak
    Document kindDDZ - dizertačná práca
    CategoryDAI - Qualificational works (thesis, habilitation, atestation...)
    book

    book

    BarcodeCall number of locationCall numberLocationSublocationInfo
    284ED00983E*ZP-16Fakulta elektrotechniky a informatikyKnižnica FEI

Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.