Number of the records: 1
Rozvoj parametrických metód pre vstavaný test analógových integrovaných obvodov
Title statement Rozvoj parametrických metód pre vstavaný test analógových integrovaných obvodov : dát. obhaj. 30.5.2013, č. ved. odb. 5-2-13 Main entry-name Arbet, Daniel, 1984- (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Another responsib. Stopjaková, Viera, 1968- (Thesis advisor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Translated title Development of Parametric Methods for Analog IC Built-in Self Test Issue data Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2013 Phys.des. 115 s Subj. Headings Mikroelektronika Microelectronics nanotechnology nanotechnológie analógové integrované obvody Country Slovakia Language Slovak URL http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=71520 Document kind DDZ - dizertačná práca Category DAI - Qualificational works (thesis, habilitation, atestation...) Year 2013 
book
Barcode Call number of location Call number Location Sublocation Info 284ED01412 E*ZP-276 Fakulta elektrotechniky a informatiky Knižnica FEI
Number of the records: 1