Number of the records: 1

Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu

Title statement	Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu : dát. obhaj. 23.8.2017, č. ved. odb. 5-2-48
Main entry-name	Novák, Patrik Z8 (Author) - FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva
Another responsib.	Dobročka, Edmund Z5 (Thesis advisor)
Translated title	Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu
Issue data	Bratislava :
	STU v Bratislave FEI,
	2017
Faculty	FEI
Date of acceptation	23.08.2017
Degreee discipline	5.2.48. fyzikálne inžinierstvo
Degree program	D-FYZ
Phys.des.	119 s., AUTOREF. 2017, 29 s.
Subj. Headings	ZnO
	rtg (difrakčný) napäťový faktor
	lom rtg žiarenia
	zvyškové napätie
	metóda šikmého dopadu rtg difrkacie
	textúra
	ZnO
	residual stress
	grazing incidence X-ray diffraction
	texture
	X-ray stress factors
	Refraction of X-rays
Language	English
URL	http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130792
Document kind	DDZ - dizertačná práca
Category	DAI - Qualificational works (thesis, habilitation, atestation...)

book

Barcode	Call number of location	Call number	Location	Sublocation	Info
284ED01594		E*ZP- 449	Fakulta elektrotechniky a informatiky	Knižnica FEI

citace PRO

Number of the records: 1