Number of the records: 1  

Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr na báze AIIIBV

  1. Title statementElektrická charakterizácia polovodičových štruktúr na báze AIIIBV
    Main entry-name Solčiansky, Michal (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Another responsib. Benko, Peter (Thesis advisor)
    Translated titleElectrical characterization of semiconductor structures based on AIIIBV
    Issue data2015
    FacultyFEI
    Date of acceptation16.06.2015
    Degreee discipline5.2.13. elektronika
    Degree programI-ME
    Phys.des.48 s. CD-ROM
    Subj. HeadingsGaN
    Schottkyho kontakt
    HEMT
    kapacitná metóda
    prúdová metóda
    Schottky contact
    HEMT
    capacitive method
    current method
    GaN
    LanguageSlovak
    URLhttp://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=111661
    Document kindDDP - diplomová práca
    book

    book

    BarcodeCall number of locationCall numberLocationSublocationInfo
    284EP11134E*DIPL- 11134Fakulta elektrotechniky a informatikyÚstav elektroniky a fotonikyIn-Library Use Only

Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.