Analysis of Structural Defect States in Thin Films of Small-Molecular Organic Semiconductors Using Complex Impedance Data and DFT

Number of the records: 1

Title statement	Analysis of Structural Defect States in Thin Films of Small-Molecular Organic Semiconductors Using Complex Impedance Data and DFT / aut. Katarína Gmucová, Martin Konôpka, Lucia Feriancová, Vojtech Nádaždy, Peter Bokes, Martin Putala
Main entry-name	Gmucová, Katarína (Author)
Another responsib.	Konôpka, Martin, 1971- Z1 (Author) - FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva
	Feriancová, Lucia (Author)
	Nádaždy, Vojtech, 1961- (Author)
	Bokes, Peter, 1973- Z1 (Author) - FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva
	Putala, Martin Z5 (Author)
In	APCOM 2023 / Sitek, Jozef. -- Melville : AIP Publishing, 2024. -- ISBN 978-0-7354-4805-6. -- Art. no. 020002 [8] s.
Language	English
URL	https://pubs.aip.org/aip/acp/article/3054/1/020002/3022835/Analysis-of-structural-defect-states-in-thin-films
Document kind	RZB - článok zo zborníka
Category	AFD - Reports at home scientific conferences
Category (from 2022)	V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
Type of document	príspevok z podujatia
In databases
Year	2024

article

citace PRO

Number of the records: 1