Number of the records: 1
Refining EBIC Analysis of GaN p-n Junctions Through Numerical Simulations
neschválené - rozpracované (upraviť môže len spracovateľ) Title statement Refining EBIC Analysis of GaN p-n Junctions Through Numerical Simulations / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka Main entry-name Priesol, Juraj, 1986- (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Another responsib. Šatka, Alexander, 1960- Z1 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky In Measurement 2025 [317 s.] / Dvurečenskij, Andrej. -- Bratislava : Institute of Measurement Science Slovak Academy of Sciences, 2025. -- ISBN 978-80-69159-00-6. -- S. 197-200 Language English Document kind RZB - článok zo zborníka Category AFD - Reports at home scientific conferences Category (from 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Type of document príspevok z podujatia Year 2025 article
Number of the records: 1