Refining EBIC Analysis of GaN p-n Junctions Through Numerical Simulations

Number of the records: 1

	neschválené - rozpracované (upraviť môže len spracovateľ)
Title statement	Refining EBIC Analysis of GaN p-n Junctions Through Numerical Simulations / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka
Main entry-name	Priesol, Juraj, 1986- (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
Another responsib.	Šatka, Alexander, 1960- Z1 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
In	Measurement 2025 [317 s.] / Dvurečenskij, Andrej. -- Bratislava : Institute of Measurement Science Slovak Academy of Sciences, 2025. -- ISBN 978-80-69159-00-6. -- S. 197-200
Language	English
Document kind	RZB - článok zo zborníka
Category	AFD - Reports at home scientific conferences
Category (from 2022)	V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
Type of document	príspevok z podujatia
Year	2025

article

citace PRO

Number of the records: 1