- Refining EBIC Analysis of GaN p-n Junctions Through Numerical Simulat…
Number of the records: 1  

Refining EBIC Analysis of GaN p-n Junctions Through Numerical Simulations

  1. neschválené - rozpracované (upraviť môže len spracovateľ)
    Title statementRefining EBIC Analysis of GaN p-n Junctions Through Numerical Simulations / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka
    Main entry-name Priesol, Juraj, 1986- (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Another responsib. Šatka, Alexander, 1960- Z1 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    In Measurement 2025 [317 s.] / Dvurečenskij, Andrej. -- Bratislava : Institute of Measurement Science Slovak Academy of Sciences, 2025. -- ISBN 978-80-69159-00-6. -- S. 197-200
    LanguageEnglish
    Document kindRZB - článok zo zborníka
    CategoryAFD - Reports at home scientific conferences
    Category (from 2022)V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Type of documentpríspevok z podujatia
    Year2025
    article

    article

Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.