PRIESOL, Juraj et al. Charakterizácia polovodičových štruktúr pre vertikálne GaN tranzistory metódami SEM. In Fotonika 2020 : 15. výročný vedecký seminár Medzinárodného laserového centra. Senec, Slovakia. 06. - 07. február 2020. Bratislava : Medzinárodné laserové centrum, 2020, S. 11-14. ISBN 978-80-972238-9-2. E*e-319/2020