Number of the records: 1
Simple RF on-chip calibration for high-frequency transistor measurements
Title statement Simple RF on-chip calibration for high-frequency transistor measurements / aut. Martin Florovič, Michal Dzuriš, René Harťanský, Jaroslav jr Kováč, Aleš Chvála, Dagmar Gregušová, Filip Gucmann, Milan Ťapajna Main entry-name Florovič, Martin, 1978- (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Another responsib. Dzuriš, Michal, 1998- Z8 (Author) - FEI Ústav elektrotechniky Harťanský, René, 1969- Z1 (Author) - FEI Ústav elektrotechniky Kováč, Jaroslav jr. 1977- Z1 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Chvála, Aleš, 1981- Z1 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Gregušová, Dagmar (Author) Gucmann, Filip, 1987- (Author) Ťapajna, Milan, 1977- (Author) Translated title Jednoduchá RF kalibrácia na čipe pre charakterizáciu tranzistora pomocou vysokofrekvenčných meraní In ASDAM 2024 [87 s.] / International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems (ASDAM 2024). -- Danvers : IEEE, 2024. -- ISBN 979-8-3315-4060-9. -- ISSN 2474-9737. -- S. 46-49 Language English URL https://ieeexplore.ieee.org/document/10844608 Document kind RZB - článok zo zborníka Category AFD - Reports at home scientific conferences Category (from 2022) V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Type of document príspevok z podujatia In databases WOS: 001447859500012
DOI: 10.1109/ASDAM63148.2024.10844608
SCOPUS: 2-s2.0-105001920345Year 2025 article
Number of the records: 1