- Simple RF on-chip calibration for high-frequency transistor measureme…
Number of the records: 1  

Simple RF on-chip calibration for high-frequency transistor measurements

  1. Title statementSimple RF on-chip calibration for high-frequency transistor measurements / aut. Martin Florovič, Michal Dzuriš, René Harťanský, Jaroslav jr Kováč, Aleš Chvála, Dagmar Gregušová, Filip Gucmann, Milan Ťapajna
    Main entry-name Florovič, Martin, 1978- (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Another responsib. Dzuriš, Michal, 1998- Z8 (Author) - FEI Ústav elektrotechniky
    Harťanský, René, 1969- Z1 (Author) - FEI Ústav elektrotechniky
    Kováč, Jaroslav jr. 1977- Z1 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Chvála, Aleš, 1981- Z1 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Gregušová, Dagmar (Author)
    Gucmann, Filip, 1987- (Author)
    Ťapajna, Milan, 1977- (Author)
    Translated titleJednoduchá RF kalibrácia na čipe pre charakterizáciu tranzistora pomocou vysokofrekvenčných meraní
    In ASDAM 2024 [87 s.] / International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems (ASDAM 2024). -- Danvers : IEEE, 2024. -- ISBN 979-8-3315-4060-9. -- ISSN 2474-9737. -- S. 46-49
    LanguageEnglish
    URLhttps://ieeexplore.ieee.org/document/10844608
    Document kindRZB - článok zo zborníka
    CategoryAFD - Reports at home scientific conferences
    Category (from 2022)V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Type of documentpríspevok z podujatia
    In databases
    Year2025
    article

    article

Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.