Number of the records: 1
Raman spectroscopy used to assess the temperature and mechanical stress in thin films of microelectronic structures
SYS 0027855 LBL 00000naa--22^^^^^-a-4500 003 SK-STU 005 20221027145550.8 007 ta 008 171115s^^^^-----------e------000-0-----d 040 $a STU $b slo 041 0-
$a eng 100 1-
$7 stu_us_auth*stu57700 $a Kadlečíková, Magdaléna, $d 1956- $u 033000 $4 aut $9 20 $r Z2 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 1899 $U E030 $Y 549 245 10
$a Raman spectroscopy used to assess the temperature and mechanical stress in thin films of microelectronic structures / $c aut. Magdaléna Kadlečíková, Ľubomír Vančo, Juraj Breza, Juraj Priesol, Alexander Šatka 700 1-
$7 stu_us_auth*stu109019 $a Vančo, Ľubomír, $d 1983- $u 902640 $r Z2 $4 aut $9 20 $U Univerzitný vedecký park STU Bratislava $T Centrum STU pre nanodiagnostiku $X 29125 $U R2640 $Y 652 700 1-
$7 stu_us_auth*stu7682 $a Breza, Juraj, $d 1951- $u 033000 $r Z1 $4 aut $9 20 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 1987 $U E030 $Y 549 700 1-
$7 stu_us_auth*stu80446 $a Priesol, Juraj, $d 1986- $u 033000 $r Z2 $4 aut $9 20 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 28614 $U E030 $Y 549 700 1-
$7 stu_us_auth*stu9834 $a Šatka, Alexander, $d 1960- $u 033000 $r Z1 $4 aut $9 20 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 1865 $U E030 $Y 549 773 0-
$w stu_us_cat*0027851 $t IMAPS flash conference 2017 $z 978-80-214-5535-1 $7 m2am $a International microelectronics assembly and packaging society $d Brno : University of Technology, 2017 $g USB, [2] s.
Number of the records: 1