Number of the records: 1
AlGaN/GaN HEMT channel temperature determination utilizing external heater
SYS 0079164 LBL 00000naa--22^^^^^-a-4500 003 SK-STU 005 20241209091242.3 007 ta 008 200109s^^^^-----------e------000-0-----d 024 7-
$2 DOI $a 10.1088/1361-6641/ab5d85 024 7-
$2 CC $a 000526390200006 024 7-
$2 SCOPUS $a 2-s2.0-85082241116 035 $a biblio/192289 $2 CREPC2 040 $a STU $b slo 041 0-
$a eng 100 1-
$7 stu_us_auth*stu45730 $a Florovič, Martin, $d 1978- $u 033000 $4 aut $9 40 $r Z2 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 4824 $U E030 $Y 549 245 10
$a AlGaN/GaN HEMT channel temperature determination utilizing external heater / $c aut. Martin Florovič, Robert Szobolovszký, Jaroslav jr Kováč, Jaroslav Kováč, Aleš Chvála, Jean-Claude Jacquet, Sylvain Laurent Delage 650 04
$7 stu_us_auth*0023871 $a dissipated power 650 04
$7 stu_us_auth*0021829 $a temperature profile 650 04
$7 stu_us_auth*stus1433 $a HEMT 650 04
$7 stu_us_auth*stus446 $a FET 650 04
$7 stu_us_auth*stus18930 $a GaN 650 04
$7 stu_us_auth*0017171 $a AlGaN 700 1-
$7 stu_us_auth*stu120483 $a Szobolovszký, Robert, $d 1990- $4 aut $9 15 $X 5551 700 1-
$7 stu_us_auth*stu42398 $a Kováč, Jaroslav jr. $d 1977- $u 033000 $r Z1 $4 aut $9 15 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 42526 $U E030 $Y 549 700 1-
$7 stu_us_auth*stu9825 $a Kováč, Jaroslav, $d 1947- $u 033000 $r Z8 $4 aut $9 10 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 2102 $U E030 $Y 549 700 1-
$7 stu_us_auth*stu57774 $a Chvála, Aleš, $d 1981- $u 033000 $r Z2 $4 aut $9 10 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 10315 $U E030 $Y 549 700 1-
$7 stu_us_auth*0018482 $a Jacquet, Jean-Claude $r Z6 $4 aut $9 5 700 1-
$7 stu_us_auth*stu123241 $a Delage, Sylvain Laurent $r Z6 $4 aut $9 5 773 0-
$w stu_us_cat*0079162 $t Semiconductor Science and Technology $x 0268-1242 $7 nnas $g Vol. 35, No. 2 (2020), Art. no. 025006 [6] s. 856 4-
$u https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1361-6641/ab5d85
Number of the records: 1