Number of the records: 1
Zr and Mo thin films with reduced residual impurities’ uptake under highvacuum conditions at room temperature
SYS 0082276 LBL 00000naa--22^^^^^-a-4500 003 SK-STU 005 20221206102641.0 007 ta 008 200706s^^^^-----------e------000-0-----d 035 $a biblio/207361 $2 CREPC2 040 $a STU $b slo 041 0-
$a eng 100 1-
$7 stu_us_auth*stu130173 $a Meško, Marcel, $d 1977- $u 061000 $4 aut $9 10 $r Z2 $U MTF Materiálovotechnologická fakulta $T MTF Ústav materiálov $X 66206 $U M1000 $Y 81 245 10
$a Zr and Mo thin films with reduced residual impurities’ uptake under highvacuum conditions at room temperature / $c aut. Marcel Meško, Jana Bohovičová, Frans Munnik, Jörg Grenzer, René Hübner, Ľubomír Čaplovič, Mária Čaplovičová, Ľubomír Vančo, Viliam Vretenár, Matthias Krause 500 $a rok vykazovania by bol 2018, ale už je neskoro!!! 650 04
$7 stu_us_auth*0047809 $a refractory metallic thin films 650 04
$7 stu_us_auth*0038171 $a HiPIMS 650 04
$7 stu_us_auth*0047810 $a residual impurity 700 1-
$7 stu_us_auth*stu81551 $a Bohovičová, Jana, $d 1986- $u 061000 $r Z2 $4 aut $9 10 $U MTF Materiálovotechnologická fakulta $T MTF Ústav materiálov $X 26256 $U M1000 $Y 81 700 1-
$7 stu_us_auth*0025157 $a Munnik, Frans $4 aut $9 10 700 1-
$7 stu_us_auth*0047808 $a Grenzer, Jörg $4 aut $9 10 700 1-
$7 stu_us_auth*0047807 $a Hübner, René $4 aut $9 10 700 1-
$7 stu_us_auth*stu28978 $a Čaplovič, Ľubomír, $d 1955- $u 061000 $r Z1 $4 aut $9 10 $U MTF Materiálovotechnologická fakulta $T MTF Ústav materiálov $X 315 $U M1000 $Y 81 700 1-
$7 stu_us_auth*0001205 $a Čaplovičová, Mária, $d 1957- $u 902640 $r Z2 $4 aut $9 10 $U Univerzitný vedecký park STU Bratislava $T Centrum STU pre nanodiagnostiku $X 3142 $U R2640 $Y 652 700 1-
$7 stu_us_auth*stu109019 $a Vančo, Ľubomír, $d 1983- $u 902640 $r Z2 $4 aut $9 10 $U Univerzitný vedecký park STU Bratislava $T Centrum STU pre nanodiagnostiku $X 29125 $U R2640 $Y 652 700 1-
$7 stu_us_auth*0001208 $a Vretenár, Viliam, $d 1976- $u 902640 $r Z2 $4 aut $9 10 $U Univerzitný vedecký park STU Bratislava $T Centrum STU pre nanodiagnostiku $X 71311 $U R2640 $Y 652 700 1-
$7 stu_us_auth*0025158 $a Krause, Matthias $4 aut $9 10 773 0-
$w stu_us_cat*0082274 $t 16th International Conference on Plasma Surface Engineering $h 478 s. $7 nnam $d 2018 $g S. 1
Number of the records: 1