- Zr and Mo thin films with reduced residual impurities’ uptake under h…
Number of the records: 1  

Zr and Mo thin films with reduced residual impurities’ uptake under highvacuum conditions at room temperature

  1. Zr and Mo thin films with reduced residual impurities’ uptake under highvacuum conditions at room temperature / aut. Marcel Meško, Jana Bohovičová, Frans Munnik, Jörg Grenzer, René Hübner, Ľubomír Čaplovič, Mária Čaplovičová, Ľubomír Vančo, Viliam Vretenár, Matthias Krause
    Meško Marcel ; 061000  Bohovičová Jana ; 061000 Munnik Frans Grenzer Jörg Hübner René Čaplovič Ľubomír ; 061000 Čaplovičová Mária ; 902640 Vančo Ľubomír ; 902640 Vretenár Viliam ; 902640 Krause Matthias
    16th International Conference on Plasma Surface Engineering : . S. 1
    refractory metallic thin films HiPIMS residual impurity
    článok zo zborníka
    BFA - Abstrakty odborných prác zo zahraničných podujatí (konferencie...)
    O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka
    article

    article

Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.