Number of the records: 1
Investigation of volume fraction of GaP nanowires by SEM characterization and spectroscopic ellipsometry
SYS 0087373 LBL 00000naa--22^^^^^-a-4500 003 SK-STU 005 20230828084806.2 007 ta 008 210302s^^^^-----------e------000-0-----d 024 7-
$2 DOI $a 10.1016/j.ijleo.2021.166572 024 7-
$2 WOS $a 000638105400003 024 7-
$2 CC $a 000638105400003 024 7-
$2 SCOPUS $a 2-s2.0-85101783615 035 $a biblio/308200 $2 CREPC2 040 $a STU $b slo 041 0-
$a eng 100 1-
$7 stu_us_auth*stu9832 $a Škriniarová, Jaroslava, $d 1954- $u 033000 $4 aut $9 60 $r Z2 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 1866 $U E030 $Y 549 245 10
$a Investigation of volume fraction of GaP nanowires by SEM characterization and spectroscopic ellipsometry / $c aut. Jaroslava Škriniarová, Pavol Hronec, Juraj Chlpík, Agáta Laurenčíková, Jaroslav jr Kováč, Jozef Novák, Robert Andok 650 04
$7 stu_us_auth*stus26815 $a ellipsometry 650 04
$7 stu_us_auth*0021641 $a GaP 650 04
$7 stu_us_auth*stus38374 $a SEM 650 04
$7 stu_us_auth*0021640 $a Nanowires 700 1-
$7 stu_us_auth*stu81357 $a Hronec, Pavol, $d 1987- $4 aut $9 2 $X 35917 700 1-
$7 stu_us_auth*stu78979 $a Chlpík, Juraj, $d 1975- $u 036000 $r Z1 $4 aut $9 30 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva $X 54417 $U E060 $Y 817 700 1-
$7 stu_us_auth*stu132239 $a Laurenčíková, Agáta $r Z5 $4 aut $9 2 700 1-
$7 stu_us_auth*stu42398 $a Kováč, Jaroslav jr. $d 1977- $u 033000 $r Z1 $4 aut $9 2 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 42526 $U E030 $Y 549 700 1-
$7 stu_us_auth*stu58345 $a Novák, Jozef, $d 1951 $r Z5 $4 aut $9 2 700 1-
$7 stu_us_auth*stu9393 $a Andok, Robert $r Z5 $4 aut $9 2 773 0-
$w stu_us_cat*0087372 $t Optik $x 0030-4026 $7 nnas $g Vol. 234, (2021), art. no. 166572 [6] s.
Number of the records: 1