Number of the records: 1  

Analýza prúdovo-napäťových charakteristík štruktúr MOS s tenkými dielektrickýcmi vrstvami s vysokou dielektrickou konštatantou

  1. Title statementAnalýza prúdovo-napäťových charakteristík štruktúr MOS s tenkými dielektrickýcmi vrstvami s vysokou dielektrickou konštatantou
    Main entry-name Vernarský, Vladimír (Author)
    Another responsib. Ťapajna, Milan, 1977- (Thesis advisor) - FEI Katedra mikroelektroniky
    Harmatha, Ladislav, 1948- (Thesis advisor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Issue dataBratislava : STU v Bratislave FEI, 2007
    FacultyFEI
    Phys.des.42 s
    Subj. Headings Mikroelektronika
    MOS štruktúry
    tenké vrstvy
    meranie dielektrických veličín
    Document kindDDP - diplomová práca
    book

    book


Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.