Number of the records: 1
Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie integrovaných obvodov
SYS stuzp65239 LBL 00000ntm-a22^^^^^3a-4500 003 SK-STU 005 20180927151803.7 007 ta 008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d 040 $a STU $b slo 041 0-
$a slo 044 $a xo 100 1-
$7 stu_us_auth*0033062 $a Vu Viet, Hoang $u 033000 $4 aut $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 70029 $U E030 $Y 549 242 01
$a DEVELOPMENT of APPLICATIONS for AUTOMATED TESTING of INTEGRATED CIRCUITS $y eng 245 10
$a Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie integrovaných obvodov 260 $c 2018 300 $a 59 s., príl., $b CD-ROM 650 -4
$a Automated Testing $2 eng 650 -4
$a Diode $2 eng 650 -4
$a Integrated Circuit $2 eng 650 -4
$a dióda $2 slo 650 -4
$a integrovaný obvod $2 slo 650 -4
$a automatizované testovanie $2 slo 700 1-
$7 stu_us_auth*stu43466 $a Benko, Peter $u 033000 $k Z2 $4 ths $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 5148 $U E030 $Y 549 856 4-
$u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=124155
Number of the records: 1