Number of the records: 1  

Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie integrovaných obvodov

  1. Údaje o názveNávrh prostriedkov pre automatizované testovanie integrovaných obvodov
    Záhlavie-meno Vu Viet, Hoang (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Ďal.zodpovednosť Benko, Peter Z2 (Školiteľ (konzultant)) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Prekl.názDEVELOPMENT of APPLICATIONS for AUTOMATED TESTING of INTEGRATED CIRCUITS
    Vyd.údaje2018
    Fyz.popis59 s., príl., CD-ROM
    Predmet.hesláAutomated Testing
    Diode
    Integrated Circuit
    dióda
    integrovaný obvod
    automatizované testovanie
    KrajinaSlovensko, Slovenská republika
    Jazyk dok.slovenčina
    Počet ex.1, z toho voľných 0, prezenčne 1
    Druh dok.DBP - bakalárska práca
    book

    book


Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.