VU VIET, Hoang. Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie energetickej odolnosti výkonových tranzistorov. Bratislava. 70 s. Available on Internet: <https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=AFB64E0160B4F4E92046D59F9648&seo=CRZP-detail-kniha> E*449/EN/2020