Number of the records: 1

Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie energetickej odolnosti výkonových tranzistorov

Title statement	Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie energetickej odolnosti výkonových tranzistorov
Main entry-name	Vu Viet, Hoang (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
Another responsib.	Benko, Peter Z2 (Thesis advisor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
Translated title	Development of Applications for Automated Ruggedness Testing of Power Transistors
Issue data	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
Phys.des.	70 s.
Subj. Headings	výkonový tranzistor
	UIS test
	energetická odolnosť
	automatizované testovanie
	MOSFET
	UIS
	ruggedness test
	automated testing system
	MOSFET
	power transistor
Country	Slovakia
Language	Slovak
Document kind	DDP - diplomová práca

citace PRO

Number of the records: 1