Number of the records: 1
Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie integrovaných obvodov
SYS stuzp88228 LBL 00000ntm-a22^^^^^3a-4500 003 SK-STU 005 20241125141642.0 007 ta 008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d 040 $a STU $b slo 041 0-
$a slo 044 $a xo 100 1-
$7 stu_us_auth*0095367 $a Puváková, Emma $u 033000 $4 aut $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 98100 $U E030 $Y 549 242 01
$a Hardware and software design for automated testing of integrated circuits $y eng 245 10
$a Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie integrovaných obvodov 260 $a Bratislava : $b STU v Bratislave FEI, $c 2023 300 $a 90 s. 650 -4
$a integrovaný obvod $2 slo 650 -4
$a automatické testovacie zariadenie $2 slo 650 -4
$a voltampérové charakteristiky $2 slo 650 -4
$a kontaktné testy $2 slo 650 -4
$a testovanie $2 slo 650 -4
$a integrated circuits $2 eng 650 -4
$a automatic test equipment $2 eng 650 -4
$a testing $2 eng 650 -4
$a volt-ampere characteristics $2 eng 650 -4
$a contact tests $2 eng 700 1-
$7 stu_us_auth*stu43466 $a Benko, Peter $u 033000 $k Z2 $4 ths $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 5148 $U E030 $Y 549 856 4-
$u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildW6VCU&sid=C0DEB8E07572332BA3200A15805F&seo=CRZP-detail-kniha
Number of the records: 1