Number of the records: 1
Charakterizácia vlastností moderných polovodičových štruktúr a prvkov optickými metódami
Title statement Charakterizácia vlastností moderných polovodičových štruktúr a prvkov optickými metódami Main entry-name Dopirák, Andrej Z4 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Another responsib. Kováč, Jaroslav Z1 (Thesis advisor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Translated title Characterization of Modern Semiconductor Structures and Devices Properties Using Optical Methods Issue data 2019 Faculty FEI Date of acceptation 11.06.2019 Degreee discipline 5.2.13. elektronika Degree program I-EN Phys.des. 68 s., CD-ROM Subj. Headings SERS Optické metódy charakterizácie Ramanovský rozptyl Ramanovské čiary Spektrometria Spektrum Polovodič Optical methods of characterization Raman scattering Raman lines Spectrometry Spectrum Semiconductor SERS Country Slovakia Language Slovak URL http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=137481 Document kind DDP - diplomová práca 
book
Barcode Call number of location Call number Location Sublocation Info 284EP12158 E*DIPL- 12158 Fakulta elektrotechniky a informatiky Ústav elektroniky a fotoniky In-Library Use Only
Number of the records: 1