Number of the records: 1
Charakterizácia vlastností moderných polovodičových štruktúr a prvkov optickými metódami
SYS stuzp63205 LBL 00000ntm-a22^^^^^3a-4500 003 SK-STU 005 20190624101834.8 007 ta 008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d 040 $a STU $b slo 041 0-
$a slo 044 $a xo 100 1-
$7 stu_us_auth*0016395 $a Dopirák, Andrej $u 033000 $k Z4 $4 aut $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 72680 $U E030 $Y 549 242 01
$a Characterization of Modern Semiconductor Structures and Devices Properties Using Optical Methods $y eng 245 10
$a Charakterizácia vlastností moderných polovodičových štruktúr a prvkov optickými metódami 260 $c 2019 300 $a 68 s., $b CD-ROM 650 -4
$a SERS $2 slo 650 -4
$a Optické metódy charakterizácie $2 slo 650 -4
$a Ramanovský rozptyl $2 slo 650 -4
$a Ramanovské čiary $2 slo 650 -4
$a Spektrometria $2 slo 650 -4
$a Spektrum $2 slo 650 -4
$a Polovodič $2 slo 650 -4
$a Optical methods of characterization $2 eng 650 -4
$a Raman scattering $2 eng 650 -4
$a Raman lines $2 eng 650 -4
$a Spectrometry $2 eng 650 -4
$a Spectrum $2 eng 650 -4
$a Semiconductor $2 eng 650 -4
$a SERS $2 eng 700 1-
$7 stu_us_auth*stu42398 $a Kováč, Jaroslav $u 033000 $k Z1 $4 ths $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 42526 $U E030 $Y 549 856 4-
$u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=137481
Number of the records: 1